可獲得一次測量M發散角，無需移動導軌，BeamWave光束質量分析儀可測量2~16um

普通光束質量分析儀通常使用Shack-Hart nn探測器測量和取樣波前能量，測量速度慢，分辨率低M2時移動繁瑣等缺點。而法國BeamWave該系列光束質量分析儀析儀PhaseView公司獨特的波前傳感技術，CCD探測器和波前探測器只需一次成像即可立即采樣，獲得光束質量（M2)數據，整個過程不需要移動任何導軌部件，測量速度快，分辨率高。BeamWave革命性地放棄了傳統光束質量分析儀的復雜系統，沒有笨重的移動部件和多余的附件 ，單一設備可以實現分析和測量M所有激光束參數，如2因子、光束形光斑傳播參數等。

BeamWave波前傳感技術采用系列光束質量分析儀，其原理是CCD在檢測過程中，入射激光斑將分為兩束激光，分別快速和慢速到達兩個CCD在探測器陣列上獲得兩個光束圖像。光束的強度分布和波前相位分布可以通過對比分析來分析M2值、發散角、光束位置等傳播參數。

法國PhaseView公司BeamWave光束質量分析儀具有獨特的光束質量M2.技術以其分辨率高、測量速度快、測量功能全面、無繁瑣導軌而聞名。它具有通用性強、連續性強、脈沖光束可測量、脈沖測量自動觸發、功能全面等優點。非常適合激光分析、眼科儀器、科研光學精密儀器的表面和波前測量。

BeamWave系列光束質量分析儀具有分辨率高、測量速度快、測量功能更全面、導軌不繁瑣等優點。Beamwave所有激光光束參數都可以用光束質量分析儀測量。包括光束發散角、光斑位置、三維能量分布、波前能量、相位分布、波前曲率半徑等。同時PhaseView光束質量分析儀還可以檢測波前傳感曲線，設備通用性強，可以連續測量脈沖光束，非常適合客戶研究各種激光參數。

PhaseView光束質量分析儀的優點：

同步測量高分辨率光強和波前

脈沖測量可以自動觸發連續和脈沖光束

只需一臺BeamWave所有光束參數都可以測量 ，而且價格相對優惠， 結構簡單，無需維護成本

不需要復雜的移動導軌部件，即時單點M2測量，

1. 光束形狀參數：光束發散角、三維能量分布、光斑位置、腰斑大小、

2. 光束傳播參數：波前曲率半徑、波前能量、相位分布、銳長、腰斑大小和位置等

3. M2因子